Publication detail
STM – practical evalluation
VOJTKULÁKOVÁ, Z.
Czech title
Rastrovací tunelovací mikroskop – možnosti využití pro praxi
English title
STM – practical evalluation
Type
Peer-reviewed article not indexed in WoS or Scopus
Language
cs
Original abstract
Předmětem této práce je představit příklady konkrétního využití rastrovacího tunelovacího mikroskopu (STM) typu TS 3100 fy TESCAN zabudovaném v REM JSM 25S fy JEOL. Jedná se o posouzení vlivu tloušťky Pd vrstev nanešených na různých substrátech (monokrystal Si v rovinách (111) a (100) a sklo) na výslednou kvalitu vrstvy. Dále bylo prováděno hodnocení jakosti povrchů Al2O3 vrstvy z hlediska její mikrodrsnosti, hodnocení morfologie povrchu nástřiků Ti a TiCr na skle a uplatnění této metody při hodnocení kvality povrchu technických keramik, hodnocení extruzí a intruzí na povrchu ocelí v průběhu únavového procesu a další. Práce si nebere za cíl podat ucelený přehled o experimentálních možnostech tohoto zařízení, spíše ukazuje možnosti využití STM pro široké spektrum technických materiálů.
English abstract
STM – practical evalluation
Released
1998-12-09
Publisher
Politechnika Opolska
Location
CR, Ostrava - Komorní Lhotka
ISBN
1429-6055
ISSN
1429-6055
Book
XIII Miedzynarodowe Sympozjum . Metody oceny struktury oraz
Volume
1998
Number
246
Pages from–to
147–151
Pages count
5
BIBTEX
@article{BUT38857,
author="Zina {Pavloušková}",
title="Rastrovací tunelovací mikroskop - možnosti využití pro praxi",
journal="Zeszyty naukowe politechniki Opolskiej seria Mechanika",
year="1998",
volume="1998",
number="246",
pages="147--151",
issn="1429-6055"
}