Detail publikace
Rastrovací tunelovací mikroskop – možnosti využití pro praxi
VOJTKULÁKOVÁ, Z.
Český název
Rastrovací tunelovací mikroskop – možnosti využití pro praxi
Anglický název
STM – practical evalluation
Typ
Článek recenzovaný mimo WoS a Scopus
Jazyk
cs
Originální abstrakt
Předmětem této práce je představit příklady konkrétního využití rastrovacího tunelovacího mikroskopu (STM) typu TS 3100 fy TESCAN zabudovaném v REM JSM 25S fy JEOL. Jedná se o posouzení vlivu tloušťky Pd vrstev nanešených na různých substrátech (monokrystal Si v rovinách (111) a (100) a sklo) na výslednou kvalitu vrstvy. Dále bylo prováděno hodnocení jakosti povrchů Al2O3 vrstvy z hlediska její mikrodrsnosti, hodnocení morfologie povrchu nástřiků Ti a TiCr na skle a uplatnění této metody při hodnocení kvality povrchu technických keramik, hodnocení extruzí a intruzí na povrchu ocelí v průběhu únavového procesu a další. Práce si nebere za cíl podat ucelený přehled o experimentálních možnostech tohoto zařízení, spíše ukazuje možnosti využití STM pro široké spektrum technických materiálů.
Anglický abstrakt
STM – practical evalluation
Vydáno
1998-12-09
Nakladatel
Politechnika Opolska
Místo
CR, Ostrava - Komorní Lhotka
ISBN
1429-6055
ISSN
1429-6055
Kniha
XIII Miedzynarodowe Sympozjum . Metody oceny struktury oraz
Ročník
1998
Číslo
246
Strany od–do
147–151
Počet stran
5
BIBTEX
@article{BUT38857,
author="Zina {Pavloušková}",
title="Rastrovací tunelovací mikroskop - možnosti využití pro praxi",
journal="Zeszyty naukowe politechniki Opolskiej seria Mechanika",
year="1998",
volume="1998",
number="246",
pages="147--151",
issn="1429-6055"
}