Publication detail

In-situ ellipsometry of surfaces and thin films

TICHOPÁDEK, P.

Czech title

In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů

English title

In-situ ellipsometry of surfaces and thin films

Type

Paper in proceedings (conference paper)

Language

cs

Original abstract

In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů

English abstract

In-situ ellipsometry of surfaces and thin films

Keywords in English

Ellipsometry

Released

2000-12-05

Publisher

Vutium

Location

Brno

Book

II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI

Pages from–to

329–

Pages count

4

BIBTEX


@inproceedings{BUT4506,
  author="Petr {Tichopádek}",
  title="In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů",
  booktitle="II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI",
  year="2000",
  pages="4",
  publisher="Vutium",
  address="Brno"
}