Detail publikace

In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů

TICHOPÁDEK, P.

Český název

In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů

Anglický název

In-situ ellipsometry of surfaces and thin films

Typ

Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus

Jazyk

cs

Originální abstrakt

In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů

Anglický abstrakt

In-situ ellipsometry of surfaces and thin films

Klíčová slova anglicky

Ellipsometry

Vydáno

2000-12-05

Nakladatel

Vutium

Místo

Brno

Kniha

II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI

Strany od–do

329–

Počet stran

4

BIBTEX


@inproceedings{BUT4506,
  author="Petr {Tichopádek}",
  title="In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů",
  booktitle="II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI",
  year="2000",
  pages="4",
  publisher="Vutium",
  address="Brno"
}