Product detail

Apparatus for the measurement of magnetotransport properties of thin film and nanostructures

URBÁNEK, M. UHLÍŘ, V. SPOUSTA, J. ŠIKOLA, T.

Czech title

Aparatura pro měření magnetotransportních vlastností tenkých vrstev a nanostruktur

English title

Apparatus for the measurement of magnetotransport properties of thin film and nanostructures

Type

Functioning sample

Language

cs

Original abstract

Aparatura sestává z elektromagnetu napájeného bipolárním proudovým zdrojem umožňující generování magnetického pole o indukci +- 250 mT. Rezistivita vzorků v závislosti na magnetickém poli může být měřena různými metodami (dvou/čtyřbodová, van der Pauwova). Zařízení je ovládáno z PC pomocí vlastního SW.

English abstract

The apparatus consists of the electromagnet powered by a bipolar power supply allowing generating of the magnetic fields +-250 mT. Sample's resistivities can be measured using various methods (two/four probe, van der Pauw). Apparatus is PC controlled using proprietary software.

Keywords in Czech

tenké vrstvy; nanostruktury; magnetovodivost; transportní vlastnosti

Keywords in English

thin films; nanostructures; magnetoresistance; transport properties

Create date

2008-06-01

Location

A2/518

BIBTEX


@misc{BUT69955,
  author="Michal {Urbánek} and Vojtěch {Uhlíř} and Jiří {Spousta} and Tomáš {Šikola}",
  title="Aparatura pro měření magnetotransportních vlastností tenkých vrstev a nanostruktur",
  year="2008",
  url="http://www.physics.fme.vutbr.cz/",
  note="Functioning sample"
}