Detail produktu
Aparatura pro měření magnetotransportních vlastností tenkých vrstev a nanostruktur
URBÁNEK, M. UHLÍŘ, V. SPOUSTA, J. ŠIKOLA, T.
Český název
Aparatura pro měření magnetotransportních vlastností tenkých vrstev a nanostruktur
Anglický název
Apparatus for the measurement of magnetotransport properties of thin film and nanostructures
Typ
Funkční vzorek
Jazyk
cs
Originální abstrakt
Aparatura sestává z elektromagnetu napájeného bipolárním proudovým zdrojem umožňující generování magnetického pole o indukci +- 250 mT. Rezistivita vzorků v závislosti na magnetickém poli může být měřena různými metodami (dvou/čtyřbodová, van der Pauwova). Zařízení je ovládáno z PC pomocí vlastního SW.
Anglický abstrakt
The apparatus consists of the electromagnet powered by a bipolar power supply allowing generating of the magnetic fields +-250 mT. Sample's resistivities can be measured using various methods (two/four probe, van der Pauw). Apparatus is PC controlled using proprietary software.
Klíčová slova česky
tenké vrstvy; nanostruktury; magnetovodivost; transportní vlastnosti
Klíčová slova anglicky
thin films; nanostructures; magnetoresistance; transport properties
Datum vzniku
2008-06-01
Umístění
A2/518
BIBTEX
@misc{BUT69955,
author="Michal {Urbánek} and Vojtěch {Uhlíř} and Jiří {Spousta} and Tomáš {Šikola}",
title="Aparatura pro měření magnetotransportních vlastností tenkých vrstev a nanostruktur",
year="2008",
url="http://www.physics.fme.vutbr.cz/",
note="Functioning sample"
}