Product detail

Development of methodology and etalons for acuracy testing of CMM with optic scanning head and optic CMM Project number 4.2 PT 01/013

VAVŘÍK, I. HOLUB, M. BLECHA, P. BRADÁČ, F. KARPÍŠEK, Z.

Czech title

Vývoj metodiky a etalonů na zkoušení přesnosti souřadnicových měřicích strojů s optickým snímacím systémem a optických souřadnicových měřicích strojů. Projekt číslo 4.2 PT 01/013

English title

Development of methodology and etalons for acuracy testing of CMM with optic scanning head and optic CMM Project number 4.2 PT 01/013

Type

Verified technology

Language

cs

Original abstract

Zajištění a prokázání metrologické návaznosti CMM s optickými snímacími systémy a optických CMM prostřednictvím vývoje vhodného systému zkoušení přesnosti složeného z hmotných etalonů rozměru (zkušební tělesa), metodiky pro vyhodnocování zkoušek přesnosti a stochastického modelování.

English abstract

Determining and proving metrologic links between CMM and optical scanning systems and optical CMM by developing a suitable precision testing system consisting of dimension mass standards (testing bodies), methodology of precision testing evaluation, and stochastic modelling.

Keywords in Czech

CMM, optické snímání, etalon, metodika, stochastické modelování

Keywords in English

CMM, optical scanning, etalon, philosophy, stochastic modeling

Create date

2008-11-27

Location

ÚVSSR ZL - SERVIS, s.r.o.

BIBTEX


@misc{BUT70136,
  author="Ivan {Vavřík} and Michal {Holub} and Petr {Blecha} and František {Bradáč} and Zdeněk {Karpíšek} and Josef {Bednář} and Libor {Žák} and Pavel {Popela} and Zuzana {Hübnerová} and Bohumil {Maroš}",
  title="Vývoj metodiky a etalonů na zkoušení přesnosti souřadnicových měřicích strojů s optickým snímacím systémem a optických souřadnicových měřicích strojů. Projekt číslo 4.2 PT 01/013
",
  year="2008",
  note="Verified technology"
}