Detail produktu

Vývoj metodiky a etalonů na zkoušení přesnosti souřadnicových měřicích strojů s optickým snímacím systémem a optických souřadnicových měřicích strojů. Projekt číslo 4.2 PT 01/013

VAVŘÍK, I. HOLUB, M. BLECHA, P. BRADÁČ, F. KARPÍŠEK, Z.

Český název

Vývoj metodiky a etalonů na zkoušení přesnosti souřadnicových měřicích strojů s optickým snímacím systémem a optických souřadnicových měřicích strojů. Projekt číslo 4.2 PT 01/013

Anglický název

Development of methodology and etalons for acuracy testing of CMM with optic scanning head and optic CMM Project number 4.2 PT 01/013

Typ

Ověřená technologie

Jazyk

cs

Originální abstrakt

Zajištění a prokázání metrologické návaznosti CMM s optickými snímacími systémy a optických CMM prostřednictvím vývoje vhodného systému zkoušení přesnosti složeného z hmotných etalonů rozměru (zkušební tělesa), metodiky pro vyhodnocování zkoušek přesnosti a stochastického modelování.

Anglický abstrakt

Determining and proving metrologic links between CMM and optical scanning systems and optical CMM by developing a suitable precision testing system consisting of dimension mass standards (testing bodies), methodology of precision testing evaluation, and stochastic modelling.

Klíčová slova česky

CMM, optické snímání, etalon, metodika, stochastické modelování

Klíčová slova anglicky

CMM, optical scanning, etalon, philosophy, stochastic modeling

Datum vzniku

2008-11-27

Umístění

ÚVSSR ZL - SERVIS, s.r.o.

BIBTEX


@misc{BUT70136,
  author="Ivan {Vavřík} and Michal {Holub} and Petr {Blecha} and František {Bradáč} and Zdeněk {Karpíšek} and Josef {Bednář} and Libor {Žák} and Pavel {Popela} and Zuzana {Hübnerová} and Bohumil {Maroš}",
  title="Vývoj metodiky a etalonů na zkoušení přesnosti souřadnicových měřicích strojů s optickým snímacím systémem a optických souřadnicových měřicích strojů. Projekt číslo 4.2 PT 01/013
",
  year="2008",
  note="Verified technology"
}