Product detail

Equipment for measuring I-V curves emission cold cathodes

MACH, J.

Czech title

Zařízení pro měření I-V křivek emise studených katod

English title

Equipment for measuring I-V curves emission cold cathodes

Type

Functioning sample

Language

cs

Original abstract

Navržené zařízení je určeno pro měření I-V křivek emise studených katod. Měření je možno provádět v rozsahu intenzity elektrického pole 0-35 V.um-1 a různých teplot substrátu a to vše za podmínek UHV. Zařízení je určeno pro měření emisivity polovodičových nanovláken užívaných převážně v elektronové mikroskopii

English abstract

The equpments is desined to measurenemt I-V curves emission cold cathodes. Measurements can be carried out in the range of electrical intensity fields 0-35 V.um-1 at different substrates temperatures in UHV condtions The device is intended for measurement of emissivity semiconductor nanowires mainly used by in electron microscopy

Keywords in Czech

emisivit;, studená katoda

Keywords in English

emissivity, cold cathode

Create date

2012-02-09

Location

A2/518

BIBTEX


@misc{BUT89648,
  author="Jindřich {Mach}",
  title="Zařízení pro měření I-V křivek emise studených katod",
  year="2012",
  note="Functioning sample"
}