Detail produktu
Zařízení pro měření I-V křivek emise studených katod
MACH, J.
Český název
Zařízení pro měření I-V křivek emise studených katod
Anglický název
Equipment for measuring I-V curves emission cold cathodes
Typ
Funkční vzorek
Jazyk
cs
Originální abstrakt
Navržené zařízení je určeno pro měření I-V křivek emise studených katod. Měření je možno provádět v rozsahu intenzity elektrického pole 0-35 V.um-1 a různých teplot substrátu a to vše za podmínek UHV. Zařízení je určeno pro měření emisivity polovodičových nanovláken užívaných převážně v elektronové mikroskopii
Anglický abstrakt
The equpments is desined to measurenemt I-V curves emission cold cathodes. Measurements can be carried out in the range of electrical intensity fields 0-35 V.um-1 at different substrates temperatures in UHV condtions The device is intended for measurement of emissivity semiconductor nanowires mainly used by in electron microscopy
Klíčová slova česky
emisivit;, studená katoda
Klíčová slova anglicky
emissivity, cold cathode
Datum vzniku
2012-02-09
Umístění
A2/518
BIBTEX
@misc{BUT89648,
author="Jindřich {Mach}",
title="Zařízení pro měření I-V křivek emise studených katod",
year="2012",
note="Functioning sample"
}