Detail VaV (40071) ▪ FSI VUT v Brně

Český název

Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM

Anglický název

Design and Application of an UHV SPM.

Typ

Článek recenzovaný mimo WoS a Scopus

Jazyk

cs

Originální abstrakt

Tento článek popisuje principy činnosti a základy konstrukce ultravakuového zařízení pro mikroskopii rastrovací sondou (UHV SPM), které bylo vyvinuto na Ústavu fyzikálního inženýrství, FSI VUT v Brně. Dále jsou uvedeny některé aplikace při studiích povrchů, mikrostruktur a nanostruktur za atmosférických podmínek.

Anglický abstrakt

This paper reports on operation principles and design fundamentals of the UHV instrument for scanning probe microscopy developed in the Institute of Physical Engineering at Brno University of Technology. Examples of some applications of the microscope for studies of surfaces and Micro/nano structures under atmospheric conditions have been given as well.

Klíčová slova anglicky

STM, SPM, AFM

Vydáno

2001-01-01

ISSN

0009-0700

Časopis

Československý časopis pro fyziku

Ročník

51

Číslo

1

Strany od–do

33–

Počet stran

4

BIBTEX


@article{BUT40071,
  author="Tomáš {Šikola} and Filip {Lopour} and Radek {Kalousek} and David {Škoda}",
  title="Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM",
  journal="Československý časopis pro fyziku",
  year="2001",
  volume="51",
  number="1",
  pages="4",
  issn="0009-0700"
}