Detail publikace
Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM
MATĚJKA, F. LOPOUR, F. MATĚJKOVÁ, J.
Český název
Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM
Anglický název
A possibilities of metrics testing of STM and AFM
Typ
Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus
Jazyk
cs
Originální abstrakt
Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM
Anglický abstrakt
A possibilities of metrics testing of STM and AFM
Klíčová slova anglicky
STM, AFM
Vydáno
2000-09-27
Nakladatel
FÚ AVČR
Místo
Praha
Kniha
2. seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii a příbuzných technikách
Strany od–do
65–
Počet stran
4
BIBTEX
@inproceedings{BUT4045,
author="František {Matějka} and Filip {Lopour} and Jiřina {Matějková}",
title="Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM",
booktitle="2. seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii a příbuzných technikách",
year="2000",
pages="4",
publisher="FÚ AVČR",
address="Praha"
}