Detail publikace
Low energy ion scattering as a method for surface structure analysis
KOLÍBAL, M. PRŮŠA, S. BÁBOR, P. ŠIKOLA, T.
Anglický název
Low energy ion scattering as a method for surface structure analysis
Typ
Článek recenzovaný mimo WoS a Scopus
Jazyk
en
Originální abstrakt
Paper dals with a low energy ion scattering as a method for surface structure analysis. The ToF LEIS instrumentation is presented.
Vydáno
2004-01-01
ISSN
0447-6441
Časopis
Jemná mechanika a optika
Ročník
9
Číslo
9
Strany od–do
262–
Počet stran
4
BIBTEX
@article{BUT42365,
author="Miroslav {Kolíbal} and Stanislav {Průša} and Petr {Bábor} and Tomáš {Šikola}",
title="Low energy ion scattering as a method for surface structure analysis",
journal="Jemná mechanika a optika",
year="2004",
volume="9",
number="9",
pages="4",
issn="0447-6441"
}