Detail publikace

Analysis of thin films by TOF LEIS

PRŮŠA, S. KOLÍBAL, M. BÁBOR, P. MACH, J. JURKOVIČ, P. ŠIKOLA, T.

Anglický název

Analysis of thin films by TOF LEIS

Typ

Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus

Jazyk

en

Originální abstrakt

Structural analysis using TOF LEIS.

Vydáno

2003-06-23

Nakladatel

EVC

Místo

Berlin

Kniha

EVC'03 Abstracts

Strany od–do

133–

Počet stran

2

BIBTEX


@inproceedings{BUT11057,
  author="Stanislav {Průša} and Miroslav {Kolíbal} and Petr {Bábor} and Jindřich {Mach} and Patrik {Jurkovič} and Tomáš {Šikola}",
  title="Analysis of thin films by TOF LEIS",
  booktitle="EVC'03 Abstracts",
  year="2003",
  pages="2",
  publisher="EVC",
  address="Berlin"
}