Detail publikace

Comparison of AFM and optical methods at measuring nanometric surface roughness

OHLÍDAL, I. FRANTA, D. OHLÍDAL, M. VIČAR, M. KLAPETEK, P.

Anglický název

Comparison of AFM and optical methods at measuring nanometric surface roughness

Typ

Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus

Jazyk

en

Vydáno

1998-11-01

Nakladatel

Physikalisch-Technische Bunesanstalt Ferrtiungsmestechnik

Místo

Braunschweig, Germany

ISBN

3-89701-280-4

Kniha

PTB – Bericht F-34

Strany od–do

123–

Počet stran

7

BIBTEX


@inproceedings{BUT21567,
  author="Ivan {Ohlídal} and Daniel {Franta} and Miloslav {Ohlídal} and Miroslav {Vičar} and Petr {Klapetek}",
  title="Comparison of AFM and optical methods at measuring nanometric surface roughness",
  booktitle="PTB - Bericht F-34",
  year="1998",
  pages="7",
  publisher="Physikalisch-Technische Bunesanstalt Ferrtiungsmestechnik",
  address="Braunschweig, Germany",
  isbn="3-89701-280-4"
}