Detail publikace

Použití segmentového ionizačního detektoru v environmentálních podmínkách

AUTRATA, R. JIRÁK, J. SCHNEIDER, L.

Český název

Použití segmentového ionizačního detektoru v environmentálních podmínkách

Anglický název

Usage of Segmental Ionization Detector at Environmental Conditions

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

en

Originální abstrakt

Environmental scanning electron microscope operates with the gaseous environment in the specimen chamber. This environment causes specific conditions for the detection of signal electrons. Classical Everhart-Thornley detector cannot be exploited for the detection of secondary electrons because of the impossibility to use high enough electric field in a gaseous environment to add sufficient energy to secondary electrons for efficient scintillation. Ionization detector is therefore used for the detection of signal electrons in environmental SEM most frequently.

Český abstrakt

Environmentální rastrvací elektronový mikroskop umožňuje použití plynu v komoře vzorku. V daném případě nelze použít běžný Everhart-Thornley detektor, používá se ionizační detektor.

Anglický abstrakt

Environmental scanning electron microscope operates with the gaseous environment in the specimen chamber. This environment causes specific conditions for the detection of signal electrons. Classical Everhart-Thornley detector cannot be exploited for the detection of secondary electrons because of the impossibility to use high enough electric field in a gaseous environment to add sufficient energy to secondary electrons for efficient scintillation. Ionization detector is therefore used for the detection of signal electrons in environmental SEM most frequently.

Klíčová slova anglicky

ESEM, Ionization detector

Vydáno

01.01.2003

Časopis

Microscopy and Microanalysis

Ročník

9

Číslo

3

Počet stran

2

BIBTEX


@article{BUT41443,
  author="Rudolf {Autrata} and Josef {Jirák} and Luděk {Schneider},
  title="Usage of Segmental Ionization Detector at Environmental Conditions",
  journal="Microscopy and Microanalysis",
  year="2003",
  volume="9",
  number="3",
  month="January"
}