Detail publikace

Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films.

URBÁNEK, M. ŠIKOLA, T. NEBOJSA, A. SPOUSTA, J. DITTRICHOVÁ, L. CHMELÍK, R. ZLÁMAL, J. JIRUŠE, J.

Anglický název

Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films.

Typ

Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus

Jazyk

en

Originální abstrakt

Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films

Vydáno

2000-04-17

Nakladatel

Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht

Místo

Berlin

Kniha

Micromat 2000

Strany od–do

604–

Počet stran

6

BIBTEX


@inproceedings{BUT4155,
  author="Michal {Urbánek} and Tomáš {Šikola} and Alois {Nebojsa} and Jiří {Spousta} and Libuše {Dittrichová} and Radim {Chmelík} and Jakub {Zlámal} and Jaroslav {Jiruše}",
  title="Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films.",
  booktitle="Micromat 2000",
  year="2000",
  pages="6",
  publisher="Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht",
  address="Berlin"
}