Results of Research and Development
UHV STM - a Technique for Studies of Atomic Surface Structures
Publication results Year: 2001
KALOUSEK, R., KONVICKA, C., SCHMID, M.
Ion Scattering Spectrosopy - A Tool for Surface Analysis.
Publication results Year: 2001
PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P.
Ellipsometry - a tool for surface and thin film analysis
Publication results Year: 2001
TICHOPÁDEK, P., NEBOJSA, A., ČECHAL, J.
Deposition of Ultrathin Films - Optimalisation of Ion Beam Optics
Publication results Year: 2001
VOBORNÝ, S., ZLÁMAL, J., BÁBOR, P.
In situ plošné monitorování optických vlastnotí tenkých vrstev připravovaných metodou IBAD
Publication results Year: 2001
URBÁNEK, M., ZLÁMAL, J.
Kvantitativní interpretace závislosti rozkmitu prahových hodnot K-faktoru na střední velikosti zrna ARMCO železa.
Publication results Year: 2001
POKLUDA, J., ŠANDERA, P., HORNÍKOVÁ, J.
Aproximální výpočet stínícího efektu na čele interkrystalické trhliny pomocí pyramidálního modelu.
Publication results Year: 2001
ŠANDERA, P., HORNÍKOVÁ, J., POKLUDA, J.
Showed 61–75 from 1961 results