Výsledky vědy a výzkumu
Comparison of AFM and optical methods at measuring nanometric surface roughness
Publikace Rok: 1998
OHLÍDAL, I., FRANTA, D., OHLÍDAL, M., VIČAR, M., KLAPETEK, P.
Comparison of optical and non-optical methods for measuring surface roughness
Publikace Rok: 1999
OHLÍDAL, I., OHLÍDAL, M., FRANTA, D., TYKAL, M.
New ways of observing optical inhomogeneities in glass
Publikace Rok: 1999
OHLÍDAL, M., VRÁNA, J., MICHÁLEK, A., PRAŽÁK, D., JÁKL, M., OHLÍDAL, I.
Acquisition of the Angular Distribution of Backscattered Electrons in the Scanning Low Energy Electron Microscope.
Publikace Rok: 2006
MÜLLEROVÁ, I. KONVALINA, I. POKORNÁ, Z.
Factors affecting the Collection Efficiency of Secondary Electrons in SEM.
Publikace Rok: 2005
KONVALINA, I. MÜLLEROVÁ, I.
Influence of magnetic and electrostatic fields in the specimen vicinity on trajectories of secondary electrons in SEM.
Publikace Rok: 2004
KONVALINA, I. MÜLLEROVÁ, I. FRANK, L.
The collection efficiency of the Everhart-Thornley detector of secondary electrons in SEM.
Publikace Rok: 2004
KONVALINA, I. MÜLLEROVÁ, I. FRANK, L.
A method for objective quantification of the efficiency of electron detectors.
Publikace Rok: 2004
FRANK, L. MÜLLEROVÁ, I. NOVÁK, L. HORÁČEK, M. KONVALINA, I.
Zobrazeny výsledky 406–420 z 1961