Výsledky vědy a výzkumu
In situ measurements of surface homogeneity of optical parameters of weakly absorbing thin films
Publikace Rok: 2001
SPOUSTA, J., URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J.
In situ plošné monitorování optických parametrů tenkých vrstev
Publikace Rok: 2001
URBÁNEK, M., SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T., ZLÁMAL, J., CHMELÍK, R., HARNA, Z., JIRUŠE, J., JÁKL, M.
In situ plošné monitorování optických vlastnotí tenkých vrstev připravovaných metodou IBAD
Publikace Rok: 2001
URBÁNEK, M., ZLÁMAL, J.
In situ plošné monitorování optických vlastnotí tenkých vrstev připravovaných metodou IBAD
Publikace Rok: 2001
URBÁNEK, M., ZLÁMAL, J.
Ion Scattering Spectrosopy - A Tool for Surface Analysis.
Publikace Rok: 2001
PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P.
Ion Scattering Spectrosopy - A Tool for Surface Analysis.
Publikace Rok: 2001
PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P.
Je hranice krystalu vskutku nejslabším článkem dynamické teorie difrakce?
Publikace Rok: 2001
DUB, P., LITZMAN, O.
Kolorimetrická interferometrie - metoda pro experimentální studium tenkých mazacích filmů
Publikace Rok: 2001
LIŠKA, M., HARTL, M.
Konstrukce elipsometru pro měření tenkých vrstev a povrchů.
Publikace Rok: 2001
TICHOPÁDEK, P., NEBOJSA, A., ČECHAL, J.
Kvantitativní interpretace závislosti rozkmitu prahových hodnot K-faktoru na střední velikosti zrna ARMCO železa.
Publikace Rok: 2001
POKLUDA, J., ŠANDERA, P., HORNÍKOVÁ, J.
Material identification using laser spectroscopy and pattern recognition algorithm
Publikace Rok: 2001
SAMEK, O., LIŠKA, M.
Měření drsnosti obráběných povrchů optickými metodami se zaměřením na povrchy vytvářené abrazivním vodním paprskem
Publikace Rok: 2001
OHLÍDAL, M.
Zobrazeny výsledky 1126–1140 z 1307